詞條
詞條說(shuō)明
調(diào)試eMMC啟動(dòng)失敗:使用 PGY-SSM 捕獲和分析啟動(dòng)數(shù)據(jù)
嵌入式系統(tǒng)依靠其eMMC存儲(chǔ)中**的啟動(dòng)序列來(lái)加載固件并將控制權(quán)移交給應(yīng)用程序代碼。然而,錯(cuò)誤配置的分區(qū)、損壞的啟動(dòng)數(shù)據(jù)或意外的?eMMC?響應(yīng)可能會(huì)破壞此過(guò)程,導(dǎo)致難以使用標(biāo)準(zhǔn)工具診斷的靜默故障。 借助?PGY-SSM SD/SDIO/eMMC協(xié)議分析儀,您可以實(shí)時(shí)捕獲整個(gè)啟動(dòng)交互,準(zhǔn)確查明問題所在,并可視化關(guān)鍵協(xié)議事件,而*中斷被測(cè)設(shè)備。為什么eMMC啟動(dòng)失敗難
Prodigy測(cè)試解決方案,適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項(xiàng)目
印度Prodigy Technovations是MIPI和JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)的貢獻(xiàn)成員,也是目前全世界排名**的UFS/UniPro協(xié)議分析儀(Analyzer)及訓(xùn)練器(Exerciser)的測(cè)試廠商,為復(fù)雜的系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)設(shè)計(jì)的半導(dǎo)體客戶提供先進(jìn)和快速的測(cè)試解決方案。Prodigy先進(jìn)的測(cè)試解決方案,適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項(xiàng)目,尤其適用于對(duì)驗(yàn)證效率和接口靈活性有
UFS 4.0 在汽車領(lǐng)域的應(yīng)用:為下一代汽車提供動(dòng)力
在當(dāng)今快速發(fā)展的汽車環(huán)境中,車輛正在轉(zhuǎn)變?yōu)閺?fù)雜的互聯(lián)計(jì)算平臺(tái)。隨著制造商不斷突破安全性、連接性和用戶體驗(yàn)的界限,對(duì)高性能存儲(chǔ)解決方案的需求變得至關(guān)重要。通用閃存存儲(chǔ) (UFS) 4.0?正在成為滿足這些需求的關(guān)鍵技術(shù),可提供**快的數(shù)據(jù)傳輸、低延遲和更高的能效。在這篇文章中,我們探討了 UFS 4.0 如何徹底改變汽車系統(tǒng),以及為什么它正在成為下一代汽車的支柱。現(xiàn)代車輛對(duì)高性能存儲(chǔ)的需求汽
I3C CTS (Conformance Testing Suite)一致性測(cè)試套件 如何測(cè)試 I3C 器件的互作性或一致性測(cè)試?
I3C協(xié)議勢(shì)頭強(qiáng)勁,將成為汽車、數(shù)據(jù)和許多其他應(yīng)用的主流技術(shù)。市場(chǎng)上出貨的 I3C 接口半導(dǎo)體數(shù)量在過(guò)去 3 年中增長(zhǎng)了 3 倍,預(yù)計(jì)未來(lái)十年增長(zhǎng)將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導(dǎo)體芯片的增長(zhǎng),傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送更高的性能以及更好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢(shì)·??&nb
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測(cè)試驗(yàn)證

100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀

Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片研發(fā)測(cè)試驗(yàn)證

Prodigy SD eMMC AC/DC 測(cè)試儀, 歐奧電子OIOSYS芯片研發(fā)測(cè)試驗(yàn)證

Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀

歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡

歐奧一鍵式全自動(dòng)進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料

歐奧原子級(jí)分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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