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便攜式橢圓偏振光測量裝置PAM-PTB100日本OSI王子 便攜式橢圓偏振光測量裝置PAM-PTB100日本OSI王子 便攜式橢圓偏振光測量裝置PAM-PTB100日本OSI王子 小面積偏振分析儀SAPA,玉崎原裝進口位差儀 在線相位差計KOBRA-SPC,玉崎原裝進口位差儀 方位測量儀PAM-P100,玉崎原裝進口位差儀 管材雙折射測量裝置PAM-IMS100,玉崎原裝進口位差儀 **高相位差測
SANKO山高渦流式膜厚計SWT-9300玉崎代理 SANKO山高渦流式膜厚計SWT-9300玉崎代理 SANKO山高渦流式膜厚計SWT-9300玉崎代理 膜厚計-電磁式,渦流式 電磁式膜厚計SWT-9000,日本SANKO山高膜厚計 電磁式膜厚計SWT-9100,日本SANKO山高膜厚計 電磁式膜厚計SWT-9200,日本SANKO山高膜厚計 渦流式膜厚計SWT-9300,日本SANKO山高膜
DMLHB-P150彎曲試驗 [φ150面板規格]組合完成圖 可以按照JIS標準進行各種彎曲試驗。 不僅可以實現符合JIS標準的重錘張力的線纜彎曲試驗,若設定夾具有效長度為30mm,也能對FFC及FPC等帶狀樣品進行試驗。 彎曲角度可以任意設定,可達±180°。 試驗速度因樣品的不同和彎曲角度有所不同,對于直徑2mm左右的電纜,在 ±90°時為120r/ min、±180°時為60r/ min。
公司名: 深圳市京都玉崎電子有限公司
聯系人: 王城
電 話: 0755-23763639
手 機: 13717023088
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地 址: 廣東深圳羅湖區深圳市南山區粵海街道威盛科技大廈3樓301-2
郵 編: 518109
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