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可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)常見問題整理 說明: ???整理與介紹目前環(huán)境試驗(yàn)當(dāng)中,使用者在使用環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,以及對(duì)于規(guī)范的要求常遇見的問題與迷失,若您有下述相關(guān)問題歡迎您與業(yè)務(wù)部聯(lián)系,我們將竭誠為您服務(wù)。 ? 環(huán)境試驗(yàn)的正確擺設(shè)方式? 說明:待測(cè)品擺放于機(jī)臺(tái)測(cè)試區(qū)當(dāng)中,怎么樣擺設(shè)才是正確的,規(guī)范是否有要求?,與體積有關(guān)嗎、與重量有關(guān)嗎、與材質(zhì)有關(guān)嗎..等,如果有
高低溫濕熱低氣壓試驗(yàn)箱 ? 氣壓降低會(huì)使許多產(chǎn)品性能受到影響。氣壓變化產(chǎn)生的壓差作用會(huì)使密封產(chǎn)品損壞;同時(shí)氣壓降低會(huì)增加散熱產(chǎn)品的溫升,導(dǎo)致產(chǎn)品的性能下降或運(yùn)行不穩(wěn)定等現(xiàn)象出現(xiàn)。高溫低氣壓條件也會(huì)使空氣介電強(qiáng)度顯著降低,從而使電弧、表面放電或電暈放電的危險(xiǎn)性增加,導(dǎo)致設(shè)備的正常工作狀態(tài)被破壞。因此,高海拔、航空運(yùn)輸及儲(chǔ)藏評(píng)價(jià)試驗(yàn)中得到應(yīng)用。特別是機(jī)載、信息、電子等領(lǐng)域,用于確定材料、部
半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱常用試驗(yàn)項(xiàng)目
半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種專門用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件,以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),可以對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行的試驗(yàn)有以下5個(gè):1. 高溫儲(chǔ)存測(cè)試條件:85℃±5℃持續(xù)時(shí)間:1000h2. 低溫儲(chǔ)存測(cè)試條件:-40℃±5℃持續(xù)時(shí)間:1000h3. 溫度循環(huán)測(cè)試條件:-40℃~85℃持續(xù)時(shí)間:200
廣東宏展儀器應(yīng)邀參加2022中國光網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)
2022年8月3日*22屆2022中國光網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)在北京新青海喜來登酒店盛大開幕,廣東宏展儀器受邀參加大會(huì),本次大會(huì)匯聚行業(yè)產(chǎn)業(yè)鏈及各大院校,為尋求產(chǎn)學(xué)研融合,共同探討光通信技術(shù)較大市場(chǎng)機(jī)遇,助力光通信產(chǎn)業(yè)及其智能化的產(chǎn)業(yè)提升,廣東宏展應(yīng)邀出席本次研討會(huì)!北京大學(xué)信息科學(xué)技術(shù)學(xué)院現(xiàn)代通信研究所教授周國平發(fā)表講話,他介紹了光電子芯片的發(fā)展歷程,從1950年發(fā)展至今,光電子芯片不斷較新?lián)Q代,如今已經(jīng)成
公司名: 廣東宏展科技有限公司
聯(lián)系人: 曾小姐
電 話: 18688888287
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地 址: 廣東東莞常平Lab Companion Park
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