恒溫恒濕箱/重慶恒溫恒濕試驗箱/重慶可程式恒溫恒濕試驗箱/恒溫恒濕機/成都恒溫恒濕試驗機/成都可程式恒溫恒濕試驗機

時間：2016-12-14

作者：廣東宏展科技有限公司

詞條
詞條說明
恒溫恒濕試驗箱均勻度偏差的原因
一臺自然環(huán)境實驗設備,包含恒溫恒濕試驗箱所出示的自然環(huán)境標準，務必是可觀察的和可操縱的,這不但是為了較好地使空氣質量參數(shù)限定，在一定的容時容差范疇以內,確保實驗標準的重現(xiàn)性和可重復性的規(guī)定,并且從商品實驗的安全性考慮也是務必的,便于避免自然環(huán)境標準無法控制造成被試商品的毀壞,產生多余的損害。現(xiàn)階段各種各樣試驗箱實驗標準中，大致規(guī)定主要參數(shù)檢測的精密度不可小于實驗標準容許的，誤差的三分之一。溫度均勻
所想,由你！結構小巧緊湊的小型快速溫度變化（濕熱）試驗箱
所想 , 由你！結構小巧緊湊的小型快速溫度變化（濕熱）試驗箱針對半導體及車載電子等電子元器件的試驗與研發(fā)需求，labcompanion開發(fā)了較小容量的小型快速溫度變化（濕熱）試驗箱，在維持標準快速溫度變化試驗箱優(yōu)勢的同時，既能滿足對空間大小有要求的客戶的需求，單相220VAC電壓規(guī)格，又能滿足研究機構、大學等民用辦公區(qū)客戶的設備使用需求。主要特征：1、升降溫性能強大升溫速率：15℃/min；
半導體芯片在進行高低溫測試時的注意事項
半導體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學材料等材料行業(yè)經常能用到的測試，用于測試材料結構或復合材料。在經過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗我們可以檢測出半導體芯片忍受較端溫度變化的程度，得以在短時間內檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理損傷。在做半導體芯片高低溫測試需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開半導體芯片高低溫測試箱，主要原因如下：1.做半導體芯片高低溫測試時需要用
ESS環(huán)境應力篩選試驗箱、快速溫度循環(huán)試驗箱
ESS環(huán)境應力篩選試驗箱、快速溫度循環(huán)試驗箱 ESS環(huán)境應力篩選試驗箱、快速溫度循環(huán)試驗箱特點 1. 1. ESS系列允許加速產品溫度變化速率，通過產品置于高速氣流的環(huán)境； 2. 2. ESS系列環(huán)境試驗箱是專為環(huán)境應力篩選應用而設計的，可根據(jù)您的具體需要生產制造環(huán)境應力篩選試驗箱； 3. 3. 進口彩色觸摸屏控制器,溫度控制穩(wěn)定，溫度過沖小,操作方便、簡單； 4. 4. 采用世界**的壓縮機+