真空熱試驗(yàn)?zāi)M

時(shí)間：2016-12-23作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：367

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

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• 上海農(nóng)園綠色工程有限公司選用宏展試驗(yàn)設(shè)備！

  上海農(nóng)園綠色工程有限公司選用宏展試驗(yàn)設(shè)備！ ? 公司介紹 追溯到1996年，主報(bào)上的一則消息---中國**人走進(jìn)現(xiàn)代化溫室…..。引導(dǎo)了一批率先有嗅覺的人踏入了一片嶄新的領(lǐng)域，這個(gè)如鉆石般閃爍的產(chǎn)品，從此進(jìn)入中國人的眼簾。因此誕生了上海農(nóng)園綠色工程有限公司。創(chuàng)始人像著迷一樣在一臺(tái)舊式的Karl-Mayer?花邊機(jī)上織造出中國**批產(chǎn)品，用于上海馬橋**化現(xiàn)代園藝開發(fā)區(qū)。 時(shí)至

• 車載屏幕高低溫試驗(yàn)測試條件及標(biāo)準(zhǔn)

  一、高溫試驗(yàn)高溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2、IEC 、IEIA 364、MIL-STD-810F等。?二、低溫試驗(yàn)低溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1、

• 冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測試

  芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導(dǎo)體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分，承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過高時(shí)元器件體積發(fā)生

• 半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測試時(shí)的注意事項(xiàng)

  半導(dǎo)體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學(xué)材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測試，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。在經(jīng)過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗(yàn)我們可以檢測出半導(dǎo)體芯片忍受較端溫度變化的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理損傷。在做半導(dǎo)體芯片高低溫測試需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開半導(dǎo)體芯片高低溫測試箱，主要原因如下：1.做半導(dǎo)體芯片高低溫測試時(shí)需要用