關(guān)于美*兒童打開(kāi)測(cè)試費(fèi)用是多少呢？

時(shí)間：2020-04-28作者：深圳市貝德技術(shù)檢測(cè)有限公司瀏覽：92

深圳市貝德技術(shù)檢測(cè)有限公司專(zhuān)注于CR認(rèn)證,CE認(rèn)證,防止兒童打開(kāi)包裝測(cè)試等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 供應(yīng)防止兒童打開(kāi)包裝測(cè)試 | 常見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)與作用

  防止兒童打開(kāi)包裝測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)： 美國(guó)消費(fèi)品安全**16 CFR*1700部分-家用物質(zhì)特殊包裝的要求 ASTM D3475-18：耐兒童包裝-可重復(fù)打開(kāi)包裝的要求和試驗(yàn)程序 EN ISO 8317:2004 -耐兒童包裝-可重壓包裝的要求和試驗(yàn)程序 EN 14375:2003 -用于制藥產(chǎn)品的耐兒童的不可重壓包裝 EN 862:2005 -包裝。耐兒童包裝。非制藥產(chǎn)品不可重蓋包裝的要求和試驗(yàn)程

• 一次性盤(pán)子、杯子等產(chǎn)品做美國(guó)FDA食品級(jí)檢測(cè) ——費(fèi)用與周期

  日常生活中，與食品接觸的產(chǎn)品使用非常廣泛，然而，根據(jù)科學(xué)研究，在使用過(guò)程中，有害物質(zhì)會(huì)從該類(lèi)產(chǎn)品轉(zhuǎn)移至食品，進(jìn)而影響人類(lèi)健康，該問(wèn)題已日趨引起各方關(guān)注； 各個(gè)國(guó)家也不斷出臺(tái)和更新食品級(jí)接觸材料的法律法規(guī)，維護(hù)消費(fèi)者安全，食品級(jí)檢測(cè) ，食品級(jí)檢測(cè)是對(duì)與食品接觸的材料進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)試其是否符合食品級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。 一、什么是FDA食品級(jí)檢測(cè)： FDA是美國(guó)食品藥物管理局(U.S. Food and Drug A

• CE-LVD常見(jiàn)問(wèn)題與相關(guān)知識(shí)

  一、LVD認(rèn)證是什么 LVD（Low Voltage pirective）,低電壓指令。 2014年3月29日，歐盟官方期刊公布了新版本低電壓指令2014/35/EU，用以替換原有低電壓指令2006/95/EC。新指令2014/35/EU將于2016年4月20日起執(zhí)行。LVD 認(rèn)證的目標(biāo)為確保低電壓設(shè)備在使用時(shí)的安全性。低電壓設(shè)備的定義為額定電壓為交流電時(shí)50到1000伏特間，直流電時(shí)75到150

• 供應(yīng)防止兒童打開(kāi)包裝測(cè)試|美國(guó)ASTM D3475等

  如果您想將您的包裝產(chǎn)品出口到美國(guó)，則必須按照美國(guó)議定書(shū)運(yùn)行測(cè)試。在5個(gè)不同的地點(diǎn)，至少有200個(gè)孩子進(jìn)行測(cè)試；年齡在50到70歲之間的老年人也進(jìn)行了測(cè)試。 兒童防護(hù)包裝US 16 CFR § 1700.20認(rèn)證所需申請(qǐng)資料： 1.申請(qǐng)表；2.認(rèn)證的產(chǎn)品資料（包括產(chǎn)品圖片、產(chǎn)品圖紙、體積等參數(shù)說(shuō)明）；3.測(cè)試樣品至少保證300個(gè)。 這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)有兩個(gè)部分的測(cè)試程序。項(xiàng)測(cè)試是對(duì)多達(dá)200名年齡在42至51