電感耦合等離子體**光譜儀/質譜儀ICP-OES/MS

時間：2022-03-04作者：昂星新型碳材料常州有限公司瀏覽：490

昂星新型碳材料常州有限公司專注于倍半硅氧烷,多孔碳材料,改性石墨烯,晶須,散熱膜濾餅,氧化石墨烯,昂星等

• 詞條

  詞條說明

• 差熱分析儀

  一、產品概述名稱：差熱分析儀產品原理：差示掃描量熱法（DSC）是在程序控制溫度下，測量輸給物質與參比物的功率差與溫度關系的一種技術。型號：鉑金埃爾默DSC8000?二、產品應用應用領域：廣泛用于適用于藥品、食品、高分子、化工產品等產品熔點測定、結晶度測定、熱歷史研究、油和蠟的熱分析、原材料分析、固化轉變、玻璃化轉變溫度的測量、氧化誘導時間測量、等溫結晶及等溫動力學研究、比熱測量、純度測量

• 透射電子顯微鏡TEM

  一、產品概述名稱：透射電子顯微鏡TEM產品原理：由電子槍**出來的電子束，在真空通道中沿著鏡體光軸穿越聚光鏡，通過聚光鏡將之會聚成一束尖細、明亮而又均勻的光斑，照射在樣品室內的樣品上；透過樣品后的電子束攜帶有樣品內部的結構信息，樣品內致密處透過的電子量少，稀疏處透過的電子量多；經過物鏡的會聚調焦和初級放大后，電子束進入下級的中間透鏡和第1、*2投影鏡進行綜合放大成像，較終被放大了的電子影像投射在觀

• 普通XRD

  一、產品概述名稱：普通XRD產品原理：束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射，互相干涉而產生較大強度的光束稱為X射線的衍射線。滿足衍射條件，可應用布拉格公式：2dsinθ=nλ，應用已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結構分析；另一個是應用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出

• 同步熱分析儀 STA

  一、產品概述名稱：同步熱分析儀STA原理：STA是測量樣品重量隨時間或溫度變化的一種儀器，需要將重量**值轉化為重量百分比坐標進行繪圖，有利益進行橫向或縱向樣品的比較。型號：鉑金埃爾默STA8000?二、產品應用：應用領域：廣泛用于研究測試和分析各種**物、無機物、高分子材料、高溫材料(金屬、礦物質、陶瓷和玻璃)、半導體材料、藥物、生物材料等物質或過程的熱事件。