使用鍍層測厚儀時有哪些注意事項

時間：2022-04-16作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：143

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

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  詞條說明

• 鍍層測試儀使用方法及使用注意事項

  鍍層測試儀是由于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離。接下來和一六一起了解鍍層測試儀使用方法及使用注意事項。鍍層測試儀的正確使用方法：一，打開電源觀察菜單。當(dāng)你打開電源之后，你會觀察到顯示屏上面的菜單。這個時候，我們需要對它選擇一定的模式，測量模式主要分為F

• 為什么選擇XU-100鍍層測厚儀?

  XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測量。 檢測各種金屬鍍層，檢出限可達(dá)0.005μm，較小測量面積0.2mm2，凹槽深度測量范圍可達(dá)0-30mm，是一款測量鍍層厚度*、適用性強的機型。接下來和一六儀器鍍層測厚品牌了解為什么選擇XU-100鍍層測厚儀?選擇XU-100鍍層測厚儀的原

• 膜厚常見測試方法有哪幾種呢？

  膜厚測試儀經(jīng)過多年的發(fā)展，已經(jīng)有了很大的進步。我們測量膜厚的方法有很多，這些方法也各有各的使用應(yīng)用特點，我們還是需要增加對于他們的了解。今天我們一六儀器的小編就來跟大家介紹一下膜厚測試儀的幾種測試方法。1.金相顯微鏡法：利用顯微鏡光學(xué)原理，對物體進行放大，可以觀察到物體表面或斷面的金相顯微結(jié)構(gòu)。應(yīng)用特點：破壞性測試，耗時長，價格昂貴。2.庫倫法：根據(jù)庫侖定律,以溶解鍍層金屬消耗的電量、溶解鍍層面積

• X熒光光譜儀兩種分類介紹

  隨著科學(xué)技術(shù)的進步，在60年代初發(fā)明了半導(dǎo)體探測器以后，對X-熒光進行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)，用X射線管產(chǎn)生原級X射線照射到樣品上，所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進入半導(dǎo)體探測器，便可以據(jù)此進行定性分析和定量分析。接下來和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的