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X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數 12~92的所有元素,選擇性高,分析微量組分時受基體的影響小,在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。X射線熒光光譜儀:儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計。?指標信息1、發(fā)射源是Rh靶X光管,最大電流125mA,電壓60kV,最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作,真空度<13pasca
主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射,第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在,該方法作為非破壞性分析技術,并作為過程控制的工具,廣泛應用于采掘和加工工業(yè)。原則上,最輕的元素,可分析出鈹(z=4),但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產量,往往難以量化,所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀,可以分析從輕元素的鈉(z=11)到鈾,而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光
X射線熒光光譜儀另一方面,化學元素遭到高能光子或粒子的照耀,如內層電子被激起,則當外層電子躍遷時,就會放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線,則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進程。當人射x射線撞擊原子中的電子時,如光子能量大于原子中的電子約束能,電子就會被擊出。這一互相效果進程被稱為光電效應,被打出的電子稱為光電子
RoHs是《電氣、電子設備中限制使用某些有害物質指令》(the Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment)的英文縮寫。該標準將于2006年7月 1日開始正式實施,主要用于規(guī)范電子電氣產品的材料及工藝標準,使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護。該標準的目的在于
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