X射線熒光光譜儀的技術瓶頸有哪些？

時間：2022-05-24

作者：江蘇一六儀器有限公司

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膜厚測量儀用途及優點
X射線射到電鍍層表面，產生X射線熒光，根據熒光譜線元素能量位置及其強度確定鍍層組成及厚度。接下來和膜厚測量儀生產廠家了解膜厚測量儀用途及優點。膜厚測量儀用途：* 探頭可互換，與所有主機兼容;* 多種校準選項,包括一點和兩點校準,已知厚度;* 均值零點校準;* 多種語言可選;* 背光顯示,方便在昏暗環境下的操作;* 倒置顯示，翻轉測量時不妨礙正常讀數;* 可擴展探頭電纜長度(較長可達250英尺/75
X熒光光譜儀在新能源光伏焊帶行業應用
光伏焊帶：又稱鍍錫銅帶或涂錫銅帶，分匯流帶和互連條，應用于光伏組件電池片之間的連接，發揮導電聚電的重要作用。焊帶是光伏組件焊接過程中的重要原材料，焊帶質量的好壞將直接影響到光伏組件電流的收集效率，對光伏組件的功率影響很大。由于焊帶使用的環境和需要焊接的區域不同，因此焊帶的直徑和表面鍍層結構也有所區別，常見的直徑規格有0.2mm，0.3mm，0.6mm，0.8mm，1mm等，等有需求線階段能做到0.
一六儀器研發的XAVU智能抽真空儀器有什么性能優勢？
XAVU是一款一機多用型X熒光光譜儀，搭載全新智能抽真空系統,同時應用了**的EFP算法和微光聚集技術，既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析，尤其是對S引、P、S、Al、Mg等輕元素有較佳的激發效果，大大提高了檢測效率。產品廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和生產工藝控制的測量使用。接著就跟X熒光光譜儀生產廠家一六儀器來了解一下吧。一六儀器研發團隊，潛心研發、打造X
膜厚常見測試方法有哪幾種呢？
膜厚測試儀經過多年的發展，已經有了很大的進步。我們測量膜厚的方法有很多，這些方法也各有各的使用應用特點，我們還是需要增加對于他們的了解。今天我們一六儀器的小編就來跟大家介紹一下膜厚測試儀的幾種測試方法。1.金相顯微鏡法：利用顯微鏡光學原理，對物體進行放大，可以觀察到物體表面或斷面的金相顯微結構。應用特點：破壞性測試，耗時長，價格昂貴。2.庫倫法：根據庫侖定律,以溶解鍍層金屬消耗的電量、溶解鍍層面積