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光譜鍍層測厚儀是將光打到樣品上時,樣品分子會使入射光發生散射,若部分散射光的頻率發生改變,則散射光與入射光之間的頻率差。本儀器主要就是通過確定物質的分子結構,針對固體、液體、氣體、**物、高分子等樣品均可以進行定性定量分析。 接下來和一六一起了解光譜鍍層測厚儀通過這些方法避免誤差。盡管光譜鍍層測厚儀具有很高的精度,但是由于許多因素的影響,仍然存在一定的誤差,那么如何才能巧妙地避免本儀器的誤差呢?1
XTU系列光譜測厚儀,采用下照式C型腔體設計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型**出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度*、適用性強的機型.該系列儀器適用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內的樣品涂鍍層檢測。光譜測厚儀概念:凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量,如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。可以對各種板材和加工零件作準確測量,另一重要
ROHS測試儀(X射線熒光光譜儀),通常可分為兩大類,即波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)、能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)。由江蘇一六儀器研發的XAU系列測試儀是市面上為數不多的、*、多功能的XRF。由研發人員匠心打造測試儀,采用了新一代設計,是一款*具科技感的一機多用型光譜儀。**的EFP算法和微光聚集技術的同時搭配新一代的多道及時序排列,專精型既保留了**測厚儀檢測微小樣品和
提到X射線熒光光譜儀,很多朋友都比較耳熟,但是要是仔細詢問,又說不出來具體的東西。其實我們生活中少不了X射線熒光光譜儀的幫助,那X射線熒光光譜儀的主要功能和應用范圍是什么呢?今天我們就跟著X射線熒光光譜儀生產廠家一六儀器的小編一起來了解一下吧。X熒光光譜儀的應用非常廣泛,總體可以歸集成以下三個大點:一、涂覆層成分及厚度分析一六儀器的X射線熒光光譜儀可以對多層進行精準檢測,即對多層合金、上下元素重復
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