紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī)（Q8UV老化機(jī)）

時(shí)間：2022-12-21作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：204

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 深冷試驗(yàn)箱

  深冷試驗(yàn)箱 型號(hào) ZDT200D ZDT500D ZDT1000D 電源 交流380V 50赫茲 3相+N+PE 較大電流 15.5 22.5 26 最大功率 7.5 11.5 13 使用環(huán)境溫/濕度 +15～+35℃/≤85%RH 控制方式 平衡調(diào)溫方式(BTC) 性能 溫度范圍 較低溫度-80℃/-100℃/-120℃可選，較高溫度+130℃ 溫度波動(dòng)度 ≤±0.5℃ 溫度均勻性 ≤2℃ 溫度

• 光纖收發(fā)器高低溫測(cè)試

  近年來(lái)光通訊市場(chǎng)發(fā)展持續(xù)成長(zhǎng), 進(jìn)而通訊設(shè)備廠商對(duì)于光收發(fā)器 Transceiver, SFP 光模塊等光組件需求量大增. 光纖收發(fā)器本身使用時(shí)會(huì)產(chǎn)生高熱, 加上其安裝的環(huán)境通常在戶外, 故溫度過高或過低時(shí), 光纖收發(fā)器是否可正常運(yùn)作, 是生產(chǎn)企業(yè)必須解決的問題！針對(duì)收發(fā)器溫度測(cè)試, **過*歷史的法國(guó)捷龍Dragon ThermoStream **高速高低溫循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)能夠快速提供高低溫測(cè)試

• 判斷電容器壽命與溫度的相關(guān)性—10度法則

  容器的壽命是一般電子產(chǎn)品壽命的較低要求，在高低溫試驗(yàn)箱、高溫老化房等實(shí)驗(yàn)設(shè)備作高低溫試驗(yàn)和老化試驗(yàn)的過程中溫度的影響可以以電容器耐溫程度為主。而10度法則是判斷電容器壽命與溫度之間的關(guān)系的一個(gè)基本的簡(jiǎn)單原則。溫度是環(huán)境應(yīng)力中經(jīng)常的參數(shù)，通過高低溫試金箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等試驗(yàn)設(shè)備得以實(shí)現(xiàn)。材料、產(chǎn)品或者元器件在試驗(yàn)箱中通過電熱管加熱產(chǎn)生溫升，或者高溫（比如70℃，甚至150℃等），或

• 冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試

  芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導(dǎo)體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分，承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過高時(shí)元器件體積發(fā)生