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微透鏡陣列的應用現在非常廣泛,小到打印機,大到科研,醫療,工業。在不同應用的環境下,需要使用不同結構的微透鏡,本文給出了微透鏡陣列的種類介紹不同種類的圖片。。從外形上看,微透鏡陣列可以分為凸面微透鏡和凹面微透鏡,具體又可分為凸面微透鏡陣列,凹面微透鏡陣列,凸面柱面微透鏡陣列,凹面柱面微透鏡陣列,單凸微透鏡和單凹微透鏡。微透鏡陣列的排列方式又可分為單個排列,單行或單列排列,正方形排列,六邊形排列,隨
這篇文章主要介紹了的PHASICS公司的核心技術——波前測量。PHASICS提供所有級別的集成,從單一的波前傳感器到模塊,再到完整的系統,無論是干涉儀還是完整的MTF站。在PHASICS所有的產品中都使用了一種技術,這就是所謂的四波橫向剪切干涉儀。它是一種衍射光柵和傳感器技術的結合。我們使用各種傳感器技術來覆蓋從紫外線到遠紅外線。四波橫向剪切干涉儀?(QWLSI)的原理當待測波前經過波前
optodiode探測器常見問題及解決方法如下。美國optodiode探測器響應時間太長(時間常數太慢),第一步是檢查源強度。如果光源的強度太高(超過1mW/cm2),探測器材料將加熱到改變探測器特性的點。這種變化迫使探測器比最初進行測量所需的時間更長,因為基本上探測器被重新敏化,這改變了探測器的光導特性。對探測器性能的影響程度取決于加熱/變化區域與整個探測器表面積的比率。optodiode探測器
激光的相干性在許多科學系統中被廣泛應用,但這種干涉過程在光學檢測器應用來說是一種缺點。在粗糙的光學表面上,例如電影屏幕,會出現局部的干擾,例如照相機或人眼可以觀察到顆粒狀的光斑圖案。這種光斑圖案降低了測量系統的分辨率,也導致投影圖像的噪音。圖1是斑點圖案和斑點中心測量的強度曲線,這種非均勻的強度分布對表現出局部飽和點的光檢測器造成了很大的限制,此外,這種圖案可能會干擾人眼。減少斑點會提高激光投影的
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