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一般來說,在購買直讀光譜儀時,生產廠家會對直讀光譜儀進行曲線制作。曲線的不同,標樣的不同都會對分析結果產生影響。曲線代表著元素含量和光譜之間的函數關系。下面,我們一起來看看直讀光譜儀曲線的制作方法吧。光電直讀光譜儀原理圖標準曲線法(三標準樣品法)光譜定量分析的較基本方法就是三標準樣品法,就是需要按確定的分析條件.用3個或3個以上分析元素含量有高低差別的標準樣品,經過光源的激發燃燒,求得些譜線的強度
臺式X熒光光譜儀主要包括光源、激發單色器、樣品池、熒光單色器及探測器等主要部件。而探測器是很重要的一環,它的重要作用是接受和分辨信號,由于探測器性能的不同,在選用探測器時,就需要綜合考慮多種因素。好的探測器不僅需要具有高分辨率和高計數率,還需要有較寬的元素分析范圍和有效活性區。其應用領域和使用環境等也是需要關注之一。就目前X熒光光譜儀常用的三種X射線探測器而言,產生一個離子對的平均能量,在Si(L
伊瓦特手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。特點它具有很高的靈敏度與檢測精度,接近實驗室級的分析水平,在不充氦氣或非真空條件下具有金屬元素(Fe,Cr,Mn,Mo,Mg, Al, Si, V, Ti等等)分析能力
臺式X熒光光譜儀在X射線光譜分析中,由于譜線之前互相干擾比較少,并且減少這種干擾的方法較多,在多數情況下譜線干擾現象不是影響分析結果的主要因素。不過我們在檢測稀土化合物中稀土元素中,發現這種干擾,輕則影響強度的確定,增加分析線強度測量的統計誤差,降低分析元素的測定靈敏度;重則是某些分析元素特別是微量元素無法準確測定。因此克服干擾譜線對于改善測定結果的準確度是十分必要的。在X射線光譜法中,如上所述,
公司名: 無錫創想分析儀器有限公司杭州分公司
聯系人: 馬建洲
電 話: 0510-83205379
手 機: 18262253279
微 信: 18262253279
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