3D光學(xué)輪廓儀主要應(yīng)用

時間：2024-07-26作者：北京儀光科技有限公司瀏覽：120

北京儀光科技有限公司專注于三維光學(xué)輪廓儀,共聚焦白光干涉儀,各類型的金相顯微鏡等

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  詞條說明

• ZYGO Nexview? NX2 光學(xué)輪廓儀

  Nexview? NX2 光學(xué)輪廓儀是為高應(yīng)用需求設(shè)計的，集精密、算法、應(yīng)用靈活性和自動化為一體，優(yōu)異展現(xiàn)了ZYGO相干掃描干涉(CSI)技術(shù)的能力。Nexview? NX2 光學(xué)輪廓儀采用的是非接觸式測量技術(shù)，具有亞納米測量精度（所有放大倍數(shù)下），可以快好地測量各種樣品表面，是一款具有非常高率的產(chǎn)品。滿足各種應(yīng)用需求，包括平面度，粗糙度和波紋度，薄膜，臺階高度，適用于幾乎任何材質(zhì)表面，因此Nex

• ZYGO ZeGage Pro 3D光學(xué)輪廓儀

  可直接用于生產(chǎn)的三維光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)。ZeGage? Pro?和 ZeGage? Pro HR 三維光學(xué)輪廓儀可對多種類型表面的微米和納米級特征進行非接觸式測量和表征，實現(xiàn)制造環(huán)境中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控。我們行業(yè)的 ZeGage Pro 系列由于其的性能、易用性、靈活性和精度為臺式工業(yè)非接觸表面輪廓儀設(shè)立了行業(yè)標準。ZeGage Pro 在 ZYGO 專有 CSI 技術(shù)的基礎(chǔ)上，采用一系列

• 3D光學(xué)輪廓儀主要應(yīng)用

  測量動態(tài)MEMS設(shè)備?光學(xué)輪廓儀是確定MEMS設(shè)備表面特征的一種非常有用的工具。傳統(tǒng)意義上，光學(xué)輪廓儀被用來測量樣品的表面特性。但是，在測量過程中，所測量的樣品需保持在靜止的狀態(tài)下，如果樣品不穩(wěn)定或者處于運動狀態(tài)則會引起圖像混亂模糊、數(shù)據(jù)不完整或者數(shù)據(jù)丟失等現(xiàn)象。然而，對于MEMS設(shè)備，需要確定該設(shè)備處于運動狀態(tài)時的形貌特征，了解和確定其在運動狀態(tài)下的功能和特征對研發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)量控制至關(guān)重

• ZYGO NewView? 9000 光學(xué)輪廓儀

  NewView? 9000 3D光學(xué)輪廓儀提供了強大、多功能的非接觸式光學(xué)表面分析。它可以簡單和快速地測量各種表面類型，包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表面。所有的測量都是無損、快速、樣品制備的。ZYGO相干掃描干涉技術(shù)(CSI)是系統(tǒng)的技術(shù)，在所有放大倍數(shù)下實現(xiàn)亞納米的精度，并且能夠快速準確的測試各種樣品表面，為客戶提供高率的體驗。性能，和多樣性靈活性是ZYGO NewView產(chǎn)品的標志。N