詞條
詞條說明
X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫學,考古學和藝術品,例如油畫和壁畫。 一種射線式
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發源和探測器和相關電子與控制部件,相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據Bragg定律
RoHS檢測儀就是歐盟RoHS測試標準的檢測儀器。簡單的說就是測試鉛Pb,鎘Cd,汞Hg,六價鉻Cr6+,多溴二苯醚PBDE,多溴聯苯PBB六種有害物質的儀器。元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)元素含量分析范圍為1PPm到9999%RoHS指令規定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br) 檢測限最高達1PPM;測量時間: 60-200秒溫度適應范圍為15°C至30°C電源:交流220V+5V (
主要使用X射線束激發熒光輻射,第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在,該方法作為非破壞性分析技術,并作為過程控制的工具,廣泛應用于采掘和加工工業。原則上,最輕的元素,可分析出鈹(z=4),但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產量,往往難以量化,所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀,可以分析從輕元素的鈉(z=11)到鈾,而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯系人: 孫
電 話:
手 機: 13814856624
微 信: 13814856624
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號
郵 編: