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詞條說明
殘余應力儀原理是什么?1、X射線衍射法測量殘余應力的原理:基于著名的布拉格方程2dsinθ=nλ :即一定波長的X射線照射到晶體材料上,相鄰兩個原子面衍射時的X射線光程差正好是波長的整數倍。通過測量衍射角變化Δθ從而得到晶格間距變化Δd,根據胡克定律和彈性力學原理,計算出材料的殘余應力。2、盲孔法測量殘余應力的原理:假設一個各向同性材料上某一區域內存在一般狀態的殘余應力場,其較大、較小主應力分別為
采用納米噴頭高低壓轉換霧化設計,使液態分子較精細,且不影響藥水效果恒定流量控制系統,保證藥水平穩恒定的供流,而非波浪線式供流,較大程度的解決白霧現象。精確控制噴涂藥量,提高藥水的霧化能力,使膜層與玻璃能均勻的結合,提高產品噴涂的均勻性,增大膜層表面爽滑度;噴嘴運動速度及輸送線速度均可調,較大的提高生產效率,滿足各種用戶需求。采用**強等離子清洗機, 鍍膜前對工件進行清洗處理, 改變工件表面特性,提高
1、?X向橫梁:采用精密斜梁技術。2、Y向導軌:采用*特的直接加工在工作臺上的整體下燕尾槽定位結構。3、導軌方式:采用自潔式預載荷高精度空氣軸承組成的四面環抱式靜壓氣浮導軌。4、驅動系統:采用本產高性能DC直流伺服電機、柔性同步齒形帶傳動裝置,各軸均有限位和電子控制,傳動較快捷、運動性能較佳。5、Z向主軸:可調節的氣動平衡裝置,提高了Z軸的定位精度。6、控制系統:采用進口的雙計算機三座標
探測器 依分辨率高低檔次由低**常用的探測器有NaI晶體閃爍計數器,充氣(He,Ne,Ar,Kr,Xe等)正比計數管器、HgI2晶體的探測器、半導體致冷SiPIN探測器、高純硅晶體的探測器、高純鍺晶體的探測器、電致冷或著液氮致冷Si(Li)鋰漂移硅晶體的探測器、Ge(Li)鋰漂移鍺探測器等。 目前常用的是電致冷或液氮致冷Si(Li)鋰漂移硅晶體的探測器、SiPIN探測器、高純的硅晶體探測器。探測器
公司名: 深圳瑞程科技有限公司
聯系人: 張先生
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地 址: 廣東深圳坪山區深圳市坪山區龍田街道老坑社區坑梓錦繡中路18號齊心科技園3號
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