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基片分辨率檢測儀用途:通量科技(南通)有限公司基片分辨率檢測系統是用來檢測光學原件(基片)分辨率指標的檢測儀器,儀器自帶CCD成像系統,可代替人眼對被檢光學原件的分辨率進行實時監測,消除了由于個人視覺不同所帶來的檢測誤差,適用于批量光學原件的分辨率檢測。技術參數物鏡焦距:500mm有效口徑:Φ80mm物鏡分辨率:1.8″配置:F500平行光管(Φ80口徑)/2根;分辨率板
通量科技(南通)有限公司40×40mm抗壓夾具技術要求上、下壓板寬度均為40.0mm±0.05mm,?上壓板長度50mm±0.1mm,下壓板長度60mm±0.2mm,?上壓板厚度14mm±0.2mm,下壓板厚度17mm±0.2mm;上、下壓板平面度0.01mm;上、下壓板表面粗糙度:Ra0.16;上、下壓板洛氏硬度58HRC-59HRC;傳壓柱洛氏硬度:56HRC-58HRC;
光譜中性衰減低透過率模擬器-通量科技(南通)有限公司???主要參數:在儀器測定波長名義值(589nm、880nm、882nm)上下10nm范圍內,對于衰減比為10%、1%,其衰減相對變化不**過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內應力對旋光度影響不**過儀器的較小分度示值。機械斬波低透過率模擬器主要參數:通量科技(南通)有限公司機械斬波低透過率模擬器只限于與符合OIML
氧化鈥濾光片標準物質GBW(E)130122特征波長 200~700nm內至少有10個吸收峰不確定度 0.3nm包裝 1片/1套通量科技(南通)有限公司氧化鈥濾光片標準物質按照JJG178-2007檢定分光光度計紫外可見光區的波長示值誤差與重復性 ?鐠釹濾光片標準物質GBW(E)130121標準波長:400nm-900nm內至少有10個吸收峰波長不確定度:0.3nm包裝 1片/1套檢定分
公司名: 通量科技(南通)有限公司
聯系人: 馮先生
電 話: 15914142916
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