Alluxa推出H-alpha系列天文學深截止濾波片656nm

時間：2023-08-14

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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詞條
詞條說明
光纖光譜儀應用在檢測薄膜厚度
首先介紹一下光的干涉。由于光的波動特性，若干列光波在空間相遇時，互相疊加或互相抵消，引起光強的重新分布，在某些區域始終加強，在某些區域始終減弱，從而出現了明暗相間的條紋，這種現象稱為光的干涉。使用光纖光譜儀測薄膜厚度上圖為使用海洋光學光纖光譜儀，利用干涉效應來測量薄膜厚度的原理圖。當一束光以θ1從薄膜表面入射，其中一部分光直接反射，另一部分光則以θ2進入薄膜發生折射，折射光經膜層下表面反射后，再經
ARCoptix傅里葉變換紅外光譜儀OEM模塊選型事項
Arcoptix 的傅里葉變換近紅外光譜儀OEM模塊，為系統集成商提供了自定義傅里葉變換紅外光譜儀設計的理想產品。該產品主要包含三個部分：干涉儀模塊，探測器模塊以及光源模塊。如上圖所示，Arcoptix提供兩種不同類型的OEM模塊：-完整的OEM模塊，集成光源和探測器，它有一個用于紅外傳感光的輸入和輸出端口。-可拆卸的OEM模塊，具有可拆卸的紅外光源和探測器模塊。根據應用的不同，可以使用帶有可
EUV硅光電二極管和極紫外光電二極管的溫度和偏振性能
使用National Synchrotron Light Source的光束線X24C測量EUV硅光電二極管（AXUV100型）的性能特性，在-92°C+41°C的溫度范圍內、3.0nm-88.2nm的波長范圍內，測量了二極管的靈敏度。這項工作可以更好的理解比室溫更冷或更熱的環境中的二極管靈敏度變化，例如在航天器上或在強烈的同步加速器或激光照射下。此外，還測量了具有多層干涉涂層的AVU100二極管
定制衍射光學元件替代無柱面光學元件進行激光剝離
激光剝離需要利用細長的激光光斑，傳統方法使用復雜且昂貴的大型光學元件來實現。本文介紹了一種利用單個DOE和標準場鏡（F-theta鏡）的方法來替代。激光紫外剝離加工的背景在許多平板顯示工藝中，屏幕層通常非常薄，使得加工極具挑戰性。為了解決這個問題，這些屏幕層通常用一種特殊的粘合劑粘合到載體晶片上，以便于加工。在粘合處理過后，還需要將它們分開，分開屏幕層得通過化學工藝、機械工藝或者越來越普遍的激光剝