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詞條說明
59XB雙目偏光顯微鏡 本款偏光顯微鏡采用透射照明系統(tǒng),主要用于對各種透明的晶體、巖石、礦物以及具有雙折射的物質(zhì)進行觀察和鑒定,是地質(zhì)、礦產(chǎn)等部門和相關(guān)高等院校較為常用專業(yè)實驗儀器之一。也可用于紡織、化纖行業(yè)對紡織纖維和醫(yī)用單位對藥物進行檢驗。隨著光學(xué)技術(shù)的不斷進步,偏光顯微鏡其應(yīng)用也越來越廣泛,可供用戶作單偏光觀察;正交偏光觀察;錐光觀察,配置有石膏入、云母1/4入試片、石英楔子和移動尺等附件
一、儀器簡介CCD+全譜火花直讀光譜儀是一臺方便使用和高精度的儀器。由于結(jié)構(gòu)緊湊體積小巧、性能高Solaris CCD Plus可以安放在辦公室、實驗室、倉庫、生產(chǎn)線等任何工作場所。Solaris CCD Plus可以有不同的配置,用于分析不同種類的黑色和有色金屬及合金。 二、主要特點1、采用CCD檢測器,可實現(xiàn)全譜分析,能夠滿足多基體分析要求,在元素選擇上具有充分的靈活性;2、儀器采用500m
特點: 方便快捷、不需切割管道、低維護、無壓損 內(nèi)置時差式和多普勒式兩種測量技術(shù),既可以測量脫離子水也可以測量高含氣或固體顆粒的液體 可測量的管徑范圍從6毫米到9米 具有防水功能技術(shù)性能指標(biāo)精度0.5%,當(dāng)流速>0.3m/s時;0.0015~0.003m/s,當(dāng)流速0.3m/s時;0.0005m/s,當(dāng)流速
TY10ECHOMETER1076 BASIC超聲波測厚儀ZX21
ECHOMETER1076 BASIC超聲波測厚儀產(chǎn)品介紹: ECHOMETER1076 BASIC超聲波測厚儀創(chuàng)新采用聲速和壁厚雙重檢測的超聲波檢測儀。它操作簡單,用戶只要在菜單上點擊幾下就能使用ECHOMETER1076 BASIC超聲波測厚儀進行測厚作業(yè)。 ECHOMETER1076 BASIC超聲波測厚儀的特點: 一、壁厚測量范圍 0.7-400 mm 二、聲速測量范圍 100-19,9
公司名: 北京中儀友信科技有限公司
聯(lián)系人: 陳勝
電 話: 010-57798167
手 機: 13261366561
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地 址: 北京海淀北京市大興區(qū)興華大街盈潤大廈2-410
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