天瑞儀器圓滿舉辦糧食重金屬快速檢測(cè)儀技術(shù)培訓(xùn)會(huì)

時(shí)間：2024-11-04作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：576

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• 淮安x射線熒光光譜儀廠家

  淮安X射線熒光光譜儀廠家淮安X射線熒光光譜儀廠家致力于為客戶提供高質(zhì)量的X射線熒光光譜儀產(chǎn)品和專業(yè)化的解決方案。作為行業(yè)良好的制造商，我們不僅關(guān)注技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)品質(zhì)量，更注重客戶需求的滿足務(wù)質(zhì)量的提升。關(guān)于X射線熒光光譜儀X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡(jiǎn)稱XRF）是一種利用X射線激發(fā)樣品中元素發(fā)出特征X射線熒光，通過測(cè)量這些熒光的能量或波長來確定樣

• x熒光光譜儀的工作原理

  x熒光光譜儀的工作原理當(dāng)用X射線照射樣品表面時(shí)，樣品可以被激發(fā)出不同波長或者能量的X射線熒光。這就要求把不同波長或不同能量的X射線區(qū)分開，并分別進(jìn)行測(cè)出不同波長不同能量X射線的強(qiáng)度。從而進(jìn)行定性和定量分析從原子的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，當(dāng)原子受到X射線光子（原級(jí)X射線）或其他微觀粒子的激發(fā)使原子內(nèi)層電子電離而出現(xiàn)空位，原子內(nèi)層電子重新配位,較外層的電子躍遷到內(nèi)層電子空位，并同時(shí)故射出次級(jí)X射線光子，此即

• 膜厚儀的影響因素有哪些呢?專家是這樣解釋的

  膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測(cè)設(shè)備，它在平時(shí)的使用中對(duì)于精準(zhǔn)度的要求很高，但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的一大“元兇”，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明： 1、基體金屬磁性質(zhì) 磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)

• 測(cè)試儀器屬于rohs監(jiān)控范圍嗎

  測(cè)試儀器屬于rohs監(jiān)控范圍嗎針對(duì)測(cè)試bai鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻du、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚這六zhi項(xiàng)的痕量分析一、初步篩dao選用X射線熒光光譜分析儀器可以對(duì)樣品中鉛、汞、鎘、鉻、溴這五種元素初步判定大致含量。二、定量測(cè)試參照IEC 62321/2nd CDV(111/95/CDV)1.用ICP和AAS測(cè)試鉛、鎘、汞的含量。2.用GC/MS測(cè)試多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚的含量3.用紫外分光度計(jì)(點(diǎn)測(cè)試發(fā)