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【光譜測厚儀品牌設(shè)備推薦】臺式光譜測厚儀的價格怎么樣
臺式光譜測厚儀主要是用于測量材料和物體的厚度的。測厚儀一般是在工業(yè)中使用的,可以進行測量產(chǎn)品和抽樣檢測。測厚儀是一種采用超聲波的測量設(shè)備,主要利用各種射線進行計量物體厚度。接下來和一六光譜測厚儀廠家一起了解臺式光譜測厚儀的價格怎么樣。一、臺式光譜測厚儀廠家介紹我們都知道在選擇光譜測厚儀的時候需要注意三個要素:較小測量面積、可測樣品復(fù)雜程度、測量樣品組分結(jié)構(gòu)等。我們在參考商家報價的時候就需要去結(jié)合這
多導(dǎo)毛細聚焦技術(shù)在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析檢測中有哪些優(yōu)勢
隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,集成電路(Integrated Circuits,IC)的封裝工藝也在不斷演進,為了確保IC載板和引線框架的性能和可靠性,鍍層測厚及成分分析成為了至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。在這個背景下,多導(dǎo)毛細聚焦技術(shù)正嶄露頭角,以其優(yōu)勢在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析中展現(xiàn)出巨大潛力。?多導(dǎo)毛細聚焦技術(shù)是一種**的分析方法,主要利用X射線全反射原理,從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛
光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測方面的應(yīng)用介紹
貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測一般依據(jù)兩項國家標準來進行,國家質(zhì)檢總局發(fā)布的國家標準GB/T18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進行貴金屬含量的無損檢測方法。目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀(XRF)來測試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測方面有哪些優(yōu)勢呢?今天就和光譜分析儀生產(chǎn)
XTU系列光譜測厚儀,采用下照式C型腔體設(shè)計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型**出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度*、適用性強的機型.該系列儀器適用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內(nèi)的樣品涂鍍層檢測。光譜測厚儀概念:凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量,如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。可以對各種板材和加工零件作準確測量,另一重要
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機: 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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