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便攜式光譜儀采用原子**光譜學的分析原理,樣品經過電弧或火花放電激發成原子蒸汽,蒸汽中原子或離子被激發后產生**光譜,**光譜經光導纖維進入光譜儀分光室色散成各光譜波段,根據每個元素**波長范圍,通過光電管測量每個元素的譜線,每種元素**光譜譜線強度正比于樣品中該元素含量,通過內部預制校正曲線可以測定含量,直接以百分比濃度顯示。便攜式光譜儀引入光纖技術,使待測物脫離了樣品池的限制,采樣方式變得較為
1、原理:X射線照射樣品,經過鍍層界面,射線返回的信號發生突變,根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難(信號分不開)。2、XRF鍍層測厚儀:俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能:精密測量金屬電鍍層的厚度。應用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
歐盟RoHS2.0鄰苯管控要求生效在即近日,根據歐盟RoHS 2.0修訂指令(EU)2015/863規定:2019年7月22日起歐盟將正式管控一般電子電氣設備中的四項鄰苯二甲酸酯。距離正式管控僅僅一個月時間了,您的產品是否已經符合法規要求了呢? 本文將主要從鄰苯二甲酸酯的管控要求、主要用途、違規風險、方法以及環保型替代物幾個方面幫助大家了解鄰苯二甲酸酯的內容,以期望幫助企業有效應對鄰苯二甲酸酯的管
● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征*可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。*可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。*薄膜FP法軟件是標準配置,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量。此外,適用于無鉛焊錫的應用。*備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。(SII**)● 2.測量原理如圖1所示,
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯系人: 李經理
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微 信: 18550531168
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮青陽北路860號
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