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EDXRF測厚儀可用于檢測多層的成分及厚度,除了計算單層物質的成分分析還要去計算多層成分及厚度,同時會遇到微小的樣品位置、復雜的樣品的形狀(改變形狀再測試厚度會變化)、上下層有相同元素等等檢測難題,所以它比其它EDXRF應用更加復雜,這也是為什么EDXRF做ROHS重金屬、合金分析、貴金屬檢測等等的廠家很多,做測厚儀的很少、做得很好的**的原因。那測厚儀應該如何劃分呢?跟著測厚儀廠家一六儀器來
XAU系列熒光光譜儀,采用下照式C型腔體設計,是一款一機多用型光譜儀。應用核心EFP算法和微光聚集技術,既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能,又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析。今天就跟著熒光光譜分析儀生產(chǎn)廠家一六儀器來詳細了解一下XAU系列產(chǎn)品吧。XAU系列產(chǎn)品概述:更廣的檢測范圍可測試更低檢出限、更高精度要求的產(chǎn)品;可視化雙向操作: 實時監(jiān)控儀器各項數(shù)據(jù),軟硬件雙向可操控設計,方便快捷。
能量色散X熒光光譜儀(Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱ED-XRF)是一種用于材料分析的儀器,它通過測量樣品吸收入射X射線后產(chǎn)生的熒光輻射來確定樣品中各種元素的含量。其原理涉及X射線的產(chǎn)生、樣品的激發(fā)和熒光輻射的檢測。以下是ED-XRF的工作原理的基本步驟:?1. X射線產(chǎn)生:ED-XRF儀器通過使用X射線管產(chǎn)生X射
各個行業(yè)的發(fā)展不僅促使自身變得好,也促進了X熒光光譜儀的提升和進步。X射線熒光法,一直是元素分析的重要方法,同時也適用于樣品涂鍍層厚度及成分分析。X熒光光譜儀在涂鍍層分析中有非常多的應用,今天就跟著X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來大致了解一下吧。1.貴金屬、珠寶首飾:黃金分析,貴金屬合金分析,珠寶鍍層分析,鉑金上的銠鍍層分析;2.鋼鐵、五金電鍍:鋼材鍍鋅/鉻、鋁材鍍鋯/鈦、哈式合金鍍層厚度測
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機: 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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