原子吸收光譜儀由什么組成？

時(shí)間：2023-07-01作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：303

江蘇天瑞儀器股份有限公司專注于手持式光譜儀,手持式合金分析儀,重金屬檢測(cè)儀,直讀光譜儀,VOC檢測(cè)儀,合金分析儀,元素分析儀,紫外光譜儀,原子吸收光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• X熒光測(cè)厚儀

  精準(zhǔn)測(cè)量之選：X熒光測(cè)厚儀的技術(shù)魅力在工業(yè)生產(chǎn)和科研領(lǐng)域，厚度測(cè)量是一項(xiàng)基礎(chǔ)而關(guān)鍵的工作。X熒光測(cè)厚儀憑借其*特的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，成為眾多行業(yè)不可或缺的檢測(cè)工具。這種非接觸式測(cè)量設(shè)備通過X射線激發(fā)樣品表面元素特征熒光，實(shí)現(xiàn)鍍層厚度和成分的快速分析。X熒光測(cè)厚儀的**技術(shù)在于其精密的X射線發(fā)生系統(tǒng)和靈敏的探測(cè)器。當(dāng)X射線照射樣品表面時(shí)，不同元素會(huì)激發(fā)出特定能量的特征X射線熒光。通過分析這些熒光的能量和強(qiáng)

• X原子熒光和原子吸收光譜儀的區(qū)別

  X原子熒光和原子吸收光譜儀的區(qū)別1.原子吸收光譜儀原子吸收光譜儀利用待測(cè)元素所產(chǎn)生的基態(tài)原子對(duì)其特征譜線的吸收程度來進(jìn)行定量分析的方法。原子吸收光譜儀的光源是空心陰極燈，檢測(cè)的樣品是溶液。2.X射線熒光光譜儀X射線熒光光譜儀樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。**源是Rh靶X光管，盡管二者都是把物質(zhì)激發(fā)后檢測(cè)其熒光，但二者的區(qū)別很大

• 江蘇鍍層分析儀器

  鍍層測(cè)厚儀：工業(yè)制造的"隱形守護(hù)者"在金屬加工領(lǐng)域，鍍層厚度直接影響產(chǎn)品的耐腐蝕性、導(dǎo)電性和使用壽命。鍍層測(cè)厚儀作為關(guān)鍵的*設(shè)備，通過X射線熒光、渦流或超聲波等技術(shù)，能夠快速準(zhǔn)確地測(cè)量金屬表面鍍層厚度，誤差可控制在0.1微米以內(nèi)。這種非破壞性檢測(cè)方式，既保證了產(chǎn)品質(zhì)量，又避免了材料浪費(fèi)?，F(xiàn)代鍍層測(cè)厚儀已實(shí)現(xiàn)智能化升級(jí)。便攜式設(shè)計(jì)讓檢測(cè)突破實(shí)驗(yàn)室限制，可隨時(shí)在生產(chǎn)線上進(jìn)行；數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能自動(dòng)記錄檢

• 浙江膜厚測(cè)試儀

  膜厚測(cè)量的精準(zhǔn)之道在工業(yè)生產(chǎn)和科研領(lǐng)域，膜厚測(cè)量技術(shù)扮演著至關(guān)重要的角色。這項(xiàng)技術(shù)通過精確測(cè)定涂層、鍍層或薄膜的厚度，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供了可靠依據(jù)。現(xiàn)代膜厚測(cè)試儀已經(jīng)發(fā)展出多種測(cè)量原理，滿足不同場(chǎng)景下的測(cè)量需求。光學(xué)干涉法是較常見的膜厚測(cè)量技術(shù)之一。這種方法利用光的干涉原理，通過分析干涉條紋的變化來計(jì)算膜層厚度。其優(yōu)勢(shì)在于非接觸式測(cè)量，不會(huì)對(duì)樣品造成損傷，特別適合測(cè)量脆性材料或精密元件。但這種方法