礦石成分分析儀的檢測原理

時間：2024-07-17作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：546

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  詞條說明

• x射線熒光光譜儀器

  X射線熒光光譜儀器是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、考古學(xué)等諸多領(lǐng)域的精密分析儀器。其主要工作原理是利用X射線激發(fā)樣品中的原子，使之產(chǎn)生二次輻射，即熒光，通過分析熒光的特征譜線，可以確定樣品中各種元素的存在及其含量。X射線熒光光譜儀的主要組成部分包括激發(fā)系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)。激發(fā)系統(tǒng)主要負(fù)責(zé)提供高能量的X射線，通常采用電子束加速器或X射線管。檢測系統(tǒng)則負(fù)責(zé)收集二次輻射即熒

• 蘇州電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀的作用

  蘇州電感耦合等離子體**光譜儀是一種用于元素分析的重要設(shè)備，它在多個領(lǐng)域中發(fā)揮著重要的作用。首先，在科研領(lǐng)域，蘇州電感耦合等離子體**光譜儀是進(jìn)行材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、生物學(xué)、地球科學(xué)等研究的重要工具。通過它，科學(xué)家可以、準(zhǔn)確地分析出樣品中的各種元素含量，為研究物質(zhì)的組成、結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、變化規(guī)律提供重要數(shù)據(jù)。例如，在地質(zhì)學(xué)研究中，它可以用于測定巖石、土壤、礦物中的各種元素，幫助科學(xué)家了解地質(zhì)歷史、

• 江蘇鍍層測厚儀的原理

  江蘇鍍層測厚儀的原理主要是基于電導(dǎo)率測定、磁性原理和X射線熒光測厚等方法，下面將對這三個原理進(jìn)行簡要概述：1. 電導(dǎo)率測定原理：鍍層測厚儀基于電導(dǎo)率測量的原理來測定鍍層厚度。通過在待測鍍層表面施加微弱的交流電信號，儀器可以檢測鍍層表面電流的分布情況。電導(dǎo)率的改變與鍍層厚度有關(guān)，因此通過測量電導(dǎo)率，可以推算出鍍層的厚度。這種方法的優(yōu)點是測量精度高，但需要特定的信號發(fā)生器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，且對鍍層的均勻

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  深圳電感耦合等離子體**光譜儀（ICP-OES）是一種高度**的元素分析設(shè)備，其工作原理基于原子**光譜分析技術(shù)。這種技術(shù)通過特定的物理和化學(xué)過程，實現(xiàn)了對樣品中元素種類和含量的精確測定。ICP-OES的工作原理起始于高頻電磁場的應(yīng)用。儀器內(nèi)部的高頻振蕩器產(chǎn)生高頻電流，這些電流通過耦合系統(tǒng)傳輸?shù)轿挥诘入x子體發(fā)生管上端的銅制、內(nèi)部用水冷卻的管狀線圈上。在石英制成的等離子體發(fā)生管內(nèi)，有三個同軸氬氣流經(jīng)