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X原子熒光和原子吸收光譜儀的區別1.原子吸收光譜儀原子吸收光譜儀利用待測元素所產生的基態原子對其特征譜線的吸收程度來進行定量分析的方法。原子吸收光譜儀的光源是空心陰極燈,檢測的樣品是溶液。2.X射線熒光光譜儀X射線熒光光譜儀樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。**源是Rh靶X光管,盡管二者都是把物質激發后檢測其熒光,但二者的區別很大
金屬鍍層測厚儀:精準測量的工業利器金屬鍍層測厚儀是現代工業生產中不可或缺的精密檢測設備,尤其在汽車制造、電子產品和航空航天等領域發揮著關鍵作用。這種儀器通過非破壞性方式快速測量金屬表面鍍層厚度,為產品質量控制提供可靠數據支持。 **技術原理金屬鍍層測厚儀主要采用X射線熒光法和渦流法兩種測量技術。X射線熒光法通過**X射線激發鍍層和基體金屬原子,分析返回的熒光光譜能量強度來確定鍍層厚度,適用于各種
膜厚儀:精準測量的關鍵工具 膜厚儀是一種用于測量涂層、薄膜或鍍層厚度的精密儀器,廣泛應用于工業制造、電子、汽車、建筑等領域。它的**功能是確保產品表面處理的質量,避免因厚度不達標導致性能缺陷或成本浪費。 膜厚儀的工作原理 膜厚儀主要通過無損檢測技術實現測量,常見的有磁性法、渦流法、超聲波法和X射線熒光法。磁性法適用于鐵基材料上的非磁性涂層;渦流法則用于非鐵金屬基材上的絕緣涂層;超聲波法可測量多層結
鍍層膜厚檢測儀:精準測量的關鍵工具 在工業生產中,鍍層膜厚的精確測量直接影響產品質量和性能。無論是金屬鍍層、涂層還是薄膜材料,厚度是否均勻、是否符合標準,都需要借助專業的檢測設備進行驗證。鍍層膜厚檢測儀正是為此而設計的高精度工具,廣泛應用于電子、汽車、航空航天等領域。 鍍層膜厚檢測的**技術 鍍層膜厚檢測儀主要采用X射線熒光(XRF)、渦流、超聲波和磁性法等測量原理。XRF技術適用于多種金屬鍍層
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯系人: 張先生
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地 址: 上海奉賢上海奉賢
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ROHS測試儀器 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內對樣品進行分析
ROHS有害物質分析儀 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內對樣品進行分析
ROHS有害元素檢測儀 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內對樣品進行分析
ROHS2.0分析儀器 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內對樣品進行分析
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ROHS10項分析儀 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內對樣品進行分析
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ROHS環保檢測儀 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內對樣品進行分析