聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應用

時間：2020-02-14

作者：深圳市啟威測標準技術服務有限公司

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X射線光譜方法測定
X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設
聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應用
焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場?(Extractor)?牽引**細小的鎵原子，而導出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經(jīng)過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經(jīng)過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、
表面分析檢測包括哪些項目？
表面分析檢測項目：?材料表面（薄膜）基本力學性能（納米壓痕儀）?材料的硬度（顯微硬度計）?薄膜與基體的結合力（大載荷劃痕儀，納米劃痕儀）?抗摩擦磨損能力（摩擦磨損試驗機，劃痕儀）?表面應力分析（X 射線衍射儀，納米壓痕 model 軟件）?材料物理化學性能：?耐腐蝕性能（鹽霧試驗機）?電化學性能（電化學工作站）&nbs
成分分析的作用及目的
成分分析的目的了解原料成份，質(zhì)量監(jiān)控分析產(chǎn)品中的各個組分比例，還原產(chǎn)品配方為產(chǎn)品標簽尋找證據(jù)證明產(chǎn)品不含某成份為產(chǎn)品性能下降找原因了解成份含量，以了解產(chǎn)品性能解決生產(chǎn)過程出現(xiàn)的問題比較不同時期的產(chǎn)品成分分析的作用煉鋼爐前分析——控制產(chǎn)品質(zhì)量分析組成成分----還原配方工業(yè)問題診斷----分析原因，消除隱患成品檢驗——合格產(chǎn)品的質(zhì)保書深圳市啟威測標準技術服務有限公司（簡稱“啟威測”或“QWC”）成立