聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應(yīng)用

時間：2020-02-14作者：深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：245

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• 詞條

  詞條說明

• 材料斷口觀察SEM分析檢測

  用肉眼（目視）或在不大于10倍的放大鏡下，檢驗金屬的宏觀組織和缺陷稱為組織檢驗。在實驗室中，常用的檢驗方法有酸蝕低倍檢驗、斷口檢驗、塔形車削發(fā)紋檢驗和硫印試驗等。酸蝕低倍檢驗，這是一種將制備好的試樣，經(jīng)過酸液腐蝕以后，來顯示試樣的宏觀組織的檢驗。而根據(jù)酸液溫度的不同，又可以分為熱酸蝕和冷酸蝕兩種檢驗。按GB/T1979評級圖對照低倍組織缺陷圖來進行評級。，通過放大鏡，在酸蝕后的試片上可以發(fā)現(xiàn)各種皮

• 常用熱分析方法對比

  熱分析技術(shù)是在溫度程序控制下研究材料的各種轉(zhuǎn)變和反應(yīng)，是一種十分重要的分析測試方法。常用的熱分析方法有：熱重法(TG)、差熱分析法（DTA）、差示掃描量熱法（DSC）。熱重分析法：?熱重分析（Thermogravimetric Analysis，TG或TGA），是指在程序控制溫度下測量待測樣品的質(zhì)量與溫度變化關(guān)系的一種熱分析技術(shù)，用來研究材料的熱穩(wěn)定性和組份。TGA在研發(fā)和質(zhì)量控制方面都

• 聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應(yīng)用

  焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場?(Extractor)?牽引**細小的鎵原子，而導(dǎo)出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經(jīng)過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經(jīng)過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、

• 成分分析的作用及目的

  成分分析的目的了解原料成份，質(zhì)量監(jiān)控分析產(chǎn)品中的各個組分比例，還原產(chǎn)品配方為產(chǎn)品標(biāo)簽尋找證據(jù)證明產(chǎn)品不含某成份為產(chǎn)品性能下降找原因了解成份含量，以了解產(chǎn)品性能解決生產(chǎn)過程出現(xiàn)的問題比較不同時期的產(chǎn)品成分分析的作用煉鋼爐前分析——控制產(chǎn)品質(zhì)量分析組成成分----還原配方工業(yè)問題診斷----分析原因，消除隱患成品檢驗——合格產(chǎn)品的質(zhì)保書深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司（簡稱“啟威測”或“QWC”）成立