影響鍍層測厚儀測量準確性的因素有哪些？

時間：2022-04-18

作者：江蘇一六儀器有限公司

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簡析光譜測厚儀概念及性能優勢
XTU系列光譜測厚儀，采用下照式C型腔體設計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型**出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度*、適用性強的機型.該系列儀器適用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內的樣品涂鍍層檢測。光譜測厚儀概念：凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類?？梢詫Ω鞣N板材和加工零件作準確測量，另一重要
膜厚測試儀器儀表六個種類應用及特點(下)
上期我們說的是磁性式膜厚測厚儀特點、渦電流式膜厚測厚儀特點、紅外膜厚測厚儀特點，接下來說說電解式膜厚測厚儀、金相膜厚測試法、X-RAY膜厚測厚儀三種膜厚測厚儀。接下來一六小編說說膜厚測試儀器儀表種類介紹及特點。電解式(庫倫法)可以測量多層鍍膜，幾乎可測試目前所有常見的電鍍鍍層，其缺點則是操作過程繁復,消耗品如藥水價格高代表機型: KOKI CT1及CT2。電解式膜厚測厚儀特點:1、價格經濟，約1-
EDXRF測厚儀的用途及如何劃分
EDXRF測厚儀可用于檢測多層的成分及厚度，除了計算單層物質的成分分析還要去計算多層成分及厚度，同時會遇到微小的樣品位置、復雜的樣品的形狀(改變形狀再測試厚度會變化)、上下層有相同元素等等檢測難題，所以它比其它EDXRF應用較加復雜，這也是為什么EDXRF做ROHS重金屬、合金分析、貴金屬檢測等等的廠家很多，做測厚儀的很少、做得很好的**的原因。那測厚儀應該如何劃分呢?跟著測厚儀廠家一六儀器來
x熒光光譜儀在考古發掘上的作用
使用x熒光光譜儀來做考古發掘，文物及藝術品保護等領域已有幾十多年的歷史。使得這項非破壞性檢測技術在該領域得以充分發展。由于可應用于現場的分析工作，X熒光光譜儀在可檢測的樣品上也有很好的拓展。接下來和一六儀器一起了解一下。元素分析對于藝術品鑒定及考古發掘的意義對于一些考古發掘出土物及歷史文物的來源及結構鑒定首先需要了解它的元素組成。特別是在鑒別某些藝術品是真品還是偽造品時，元素分析往往具有重要意義。