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測厚儀按照測量方式可分為接觸式和非接觸式。接觸式測厚儀通過儀器與樣品表面接觸測量,從而得知測量結果。而有些樣品的表面容易破壞不宜測量,則衍生出各種非接觸式測量方法,測厚儀的檢測方法及測量注意事項。1.涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以*地測量探頭
能量色散X熒光光譜儀(Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱ED-XRF)是一種用于材料分析的儀器,它通過測量樣品吸收入射X射線后產生的熒光輻射來確定樣品中各種元素的含量。其原理涉及X射線的產生、樣品的激發和熒光輻射的檢測。以下是ED-XRF的工作原理的基本步驟:?1. X射線產生:ED-XRF儀器通過使用X射線管產生X射
熒光光譜儀是以同位素源為激發源,優點是體積小巧,便于攜帶。目前上較好的便攜式熒光能譜儀,可同時分析包括黃金(Au)等24種元素。我們如何才能選擇一個合適的熒光光譜儀呢?熒光光譜儀的選購有哪些注意事項?下面跟著一六儀器的小編一起來看下吧。首先要判斷一臺原子熒光光譜儀的級別。技術指標是決定一臺原子熒光光譜儀級別高低的根本。技術指標越好,其級別越高。其次,在同等級別的基礎上要衡量比較儀器的配置與功能。功
光譜鍍層測厚儀是將光打到樣品上時,樣品分子會使入射光發生散射,若部分散射光的頻率發生改變,則散射光與入射光之間的頻率差。本儀器主要就是通過確定物質的分子結構,針對固體、液體、氣體、**物、高分子等樣品均可以進行定性定量分析。 接下來和一六一起了解光譜鍍層測厚儀通過這些方法避免誤差。盡管光譜鍍層測厚儀具有很高的精度,但是由于許多因素的影響,仍然存在一定的誤差,那么如何才能巧妙地避免本儀器的誤差呢?1
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