南京X熒光測厚儀

時間：2025-06-11

作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司

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詞條說明
原子吸收光譜儀由什么組成？
原子吸收光譜儀由以下四部分組成1.光源系統:空心陰極燈2.原子化系統:火焰原子化器;石墨爐原子化器或氫化物發生器。3.分光系統：單色器4.檢測系統：光電倍增管等一、光源系統:原子吸收光源應滿足以下條件1.能輻射出半寬度比吸收線半寬度還窄的譜線，并且發射線的中心頻率應與吸收線的中心頻率相同。2.輻射的強度應足夠大。3.輻射光的強度要穩定，且背景小。原子化器是將樣品中的待測組份轉化為基態原子的裝置。二
X原子熒光和原子吸收光譜儀的區別
X原子熒光和原子吸收光譜儀的區別1.原子吸收光譜儀原子吸收光譜儀利用待測元素所產生的基態原子對其特征譜線的吸收程度來進行定量分析的方法。原子吸收光譜儀的光源是空心陰極燈，檢測的樣品是溶液。2.X射線熒光光譜儀X射線熒光光譜儀樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。發射源是Rh靶X光管，盡管二者都是把物質激發后檢測其熒光，但二者的區別很大
鍍層膜厚分析儀
鍍層膜厚分析儀：精準測量的秘密武器在工業生產與質量檢測中，鍍層膜厚直接影響產品的性能和壽命。無論是金屬鍍層、涂層還是薄膜材料，精確測量其厚度至關重要。鍍層膜厚分析儀正是為此而生，它的高精度與高效性使其成為制造業和科研領域的核心工具。鍍層膜厚分析儀的核心技術在于非破壞性測量。通過X射線熒光（XRF）或渦流檢測原理，儀器能在不損傷樣品的情況下快速得出數據。XRF技術適用于多種金屬鍍層，尤其擅長分析
南京鍍層測厚儀
鍍層測厚儀的關鍵技術與發展趨勢鍍層測厚儀是一種用于測量金屬或非金屬表面鍍層厚度的精密儀器，廣泛應用于制造業、電子工業、汽車行業等領域。其核心技術主要依賴于無損檢測方法，能夠在不破壞材料的前提下快速準確地獲取數據。核心技術原理鍍層測厚儀主要采用X射線熒光法（XRF）和渦流法兩種測量方式。X射線熒光法適用于多層鍍層測量，精度高，但設備成本較高；渦流法則適用于導電材料的單層鍍層檢測，操作簡便且速度