國內VPD半導體晶體制備分析技術

時間：2023-06-15

作者：英格爾檢測技術服務（上海）有限公司

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DPA電子元器件失效分析案例
在電子元器件使用過程中，企業會面臨情況不一的失效狀況，主要包括器件本身缺陷：封裝工藝缺陷與芯片微納缺陷及其他、靜電放電損傷、污染腐蝕以及爆米花效應等。近日英格爾檢測實驗室，受到某**企業的電子元器件DPA失效分析技術委托。英格爾檢測擁有專業的技術團隊與先進儀器，可為企業提供專業高效且完善的檢測分析服務。英格爾檢測DPA失效分析-----案例分享英格爾實驗室在某塑料封裝的放大器在裝機后進行了溫沖、溫
微電子器件VPD-ICP-MS
微電子器件以及硅晶圓金屬分析能力，不僅是當前VPD半導體行業發展的“助力器”，還是協助行業進階的重要技術。英格爾檢測作為優秀的第三方檢測機構，擁有完善的晶圓金屬表面分析體系與先進的半導體檢測儀器。在日常檢測中，英格爾不僅會對企業展開內部技術支持，還會制定專業的分析體系，達到加速國內半導體行業發展的目的。英格爾檢測*認為，晶圓金屬污染監測是一個非常重要的研究課題，因為金屬污染會對昂貴而復雜的微電子
電子級氣體檢測項目有哪些？
電子級氣體檢測技術及儀器具備高準確性、高靈敏度、高重現性的檢測優勢，電子級氣體檢測標準包括但不限于強制性標準、**標準（GB）、歐標、美標等國際級標準（ISO/IEC）及推薦標準。英格爾檢測機構將通過固定式電子氣體檢測儀、便攜式電子氣體檢測儀、在線式電子氣體檢測儀等，可為企業提供包括金屬材料、橡膠材料、高分子材料等多領域電子級氣體檢測服務。?電子級氣體檢測范圍包括但不限于：氧化亞氮、氯
半導體離子質譜儀材料檢測機構
半導體離子質譜儀材料檢測機構半導體行業的材料產出與材料品質需經過多道精密的檢測步驟，其中英格爾半導體離子質譜儀可提供專業幫助。當前英格爾離子質譜儀（TOF-SIMS）具備針對微區**污染分析手段與能力，在發生PCB表面異常情況下，通過英格爾豐富的數據庫進行對比可掌握污染物成分，實施污染物辨別技術判斷來源可能。（1）PCB上的硅油殘留污染分析英格爾檢測：硅油具有絕緣介質的特性，廣泛運用于電子制程中，