復合鹽霧腐蝕試驗箱

時間：2016-12-03

作者：廣東宏展科技有限公司

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詞條說明
半導體芯片在進行高低溫測試時的注意事項
半導體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學材料等材料行業經常能用到的測試，用于測試材料結構或復合材料。在經過高溫及較低溫的連續變化環境試驗我們可以檢測出半導體芯片忍受較端溫度變化的程度，得以在短時間內檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理損傷。在做半導體芯片高低溫測試需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開半導體芯片高低溫測試箱，主要原因如下：1.做半導體芯片高低溫測試時需要用
砂塵試驗箱、IEC60068、MIL-STD-810F、GJB150A
產品名稱：砂塵試驗箱產品型號：產品性能： ?? 砂塵試驗箱用來模擬自然界的砂塵環境，適用于檢驗所**械、光學、電氣、電子、電化學和機電裝置對砂塵的適應能力。砂塵試驗用來評價裝備對可能阻塞開口，滲入裂縫、軸承和接頭的灰塵抵御能力，評價過濾裝置的工作效能以及評價裝備是否能在吹砂條件下貯存和工作。 ?? 備注：內部尺寸大小均可根據要求進行設計。 ?
溫度沖擊試驗箱類型
溫度沖擊試驗箱是一種廣泛應用于電子電器、汽車、軌道交通、通訊、航空航天、醫療等行業的測試設備。其主要作用是模擬實際環境下的交變溫度條件，以測試電子元器件、材料和產品的耐熱性、耐寒性、熱穩定性、機械強度和電性能等指標。按照不同的測試要求和使用場景，溫度沖擊試驗箱可以分為多種類型。下面就對常見的溫度沖擊試驗箱進行簡要介紹：1. 水浸式溫度沖擊試驗箱水浸式溫度沖擊試驗箱是將樣品放置在水池中，通過改變水溫
UL2054安全標準的電性能測試
1.短路試驗:每個測試電池樣品正、負極采取阻值<0.1QCu 線短接，電池放電直至起火或爆炸，或直至電池完全放電，殼體溫度重新降至室溫停止。試驗在室溫和60士2℃進行，電池在室溫或60℃±2℃達成和環境平衡穩定后再短接。除非制造商指明是串聯或并聯，電池應單獨測試。對于串聯或并聯應用，另外五套電池需進行測試，采取電池zui大數目依據所用串/并聯數目定。當電池中有過流或熱保護裝置時且已經過UL認