優(yōu)爾鴻信老化測(cè)試|UV老化試驗(yàn)多少小時(shí)相當(dāng)于戶外曝曬一年？

時(shí)間：2025-05-23作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：381

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

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  詞條說(shuō)明

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|黑色陽(yáng)極氧化膜脫落原因有哪些？

  黑色陽(yáng)極氧化膜脫落是一個(gè)較為復(fù)雜的問(wèn)題，以下是一些常見(jiàn)原因：一、前處理不當(dāng)脫脂不徹底如果工件表面的油脂、油污沒(méi)有被完全清除，在陽(yáng)極氧化過(guò)程中，這些雜質(zhì)會(huì)阻礙氧化膜的正常生長(zhǎng)。例如，機(jī)械加工后的零件表面可能殘留有切削油，當(dāng)進(jìn)行陽(yáng)極氧化時(shí)，氧化膜無(wú)法在有油污的區(qū)域牢固附著，從而導(dǎo)致后續(xù)使用過(guò)程中氧化膜脫落。堿蝕過(guò)度或不足堿蝕是為了去除工件表面的自然氧化膜，使基體金屬活化。如果堿蝕過(guò)度，會(huì)導(dǎo)致工件表面粗

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|工業(yè) CT 掃描檢測(cè)技術(shù)在航空航天領(lǐng)域的應(yīng)用案例

  工業(yè) CT 掃描檢測(cè)技術(shù)在航空航天領(lǐng)域有諸多應(yīng)用案例，以下是一些典型的：渦輪葉片檢測(cè)：內(nèi)部缺陷檢測(cè)：渦輪葉片處于發(fā)動(dòng)機(jī)的高溫、高壓環(huán)境中，對(duì)質(zhì)量要求極高。工業(yè) CT 可以檢測(cè)出葉片內(nèi)部的氣孔、疏松、裂紋等缺陷。例如，在葉片鑄造過(guò)程中，可能會(huì)因工藝問(wèn)題產(chǎn)生微小的內(nèi)部缺陷，這些缺陷用傳統(tǒng)檢測(cè)方法難以發(fā)現(xiàn)，但工業(yè) CT 能夠清晰呈現(xiàn)，幫助篩選出不合格的葉片，避免在發(fā)動(dòng)機(jī)運(yùn)行時(shí)出現(xiàn)故障。尺寸測(cè)量與輪廓檢查

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|常見(jiàn)的IC檢測(cè)設(shè)備有哪些？

  以下是一些常見(jiàn)的 IC 檢測(cè)設(shè)備：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）功能：可自動(dòng)對(duì) IC 進(jìn)行性能驗(yàn)證和故障診斷，能精確測(cè)量和評(píng)估芯片各項(xiàng)性能指標(biāo)，通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試流程大幅提高測(cè)試效率，支持多種測(cè)試模式和程序以滿足不同測(cè)試需求，并采用先進(jìn)故障診斷和隔離技術(shù)確保測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠.應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、制造、封裝等各個(gè)環(huán)節(jié)，如 SoC 測(cè)試機(jī)用于智能手機(jī)、平板電腦、數(shù)據(jù)中心等高端電子設(shè)備中的系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試；存

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|膠帶 180° 剝離強(qiáng)度試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)有哪些？

  膠帶 180° 剝離強(qiáng)度試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)主要有以下幾種：GB/T 2792-1998：適用范圍：適用于單、雙面壓敏膠粘帶與不銹鋼板 180° 剝離強(qiáng)度的測(cè)定，也可用于與其他材料如 PVC、ABS、PE 等的剝離強(qiáng)度測(cè)試。試驗(yàn)裝置要求：壓輥：用橡膠包覆的直徑（不包括橡膠層）約 84mm，寬度約 45mm 的鋼輪子；包覆橡膠硬度（邵爾 A 型）為 80±5，厚度約 5mm；壓輥的質(zhì)量為 2000g±50g。